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如何使用鍍層測厚儀測量鍍層厚度

瀏覽次數:410 更新日期:2024-01-08

摘要:

在工業生產和質量控制中,精確測量鍍層厚度至關重要。鍍層測厚儀作為一種高精度的測量工具,能準確快速地測量各種材料表面上的涂層厚度。以下是使用鍍層測厚儀測量鍍層厚度的基本步驟:一、準備工作在開始測量之前,需要先準備好鍍層測厚儀,確保電池充足,儀器狀態良好。同時,需要了解待測鍍層的材質、涂層類型以及基材的....

在工業生產和質量控制中,精確測量鍍層厚度至關重要。鍍層測厚儀作為一種高精度的測量工具,能準確快速地測量各種材料表面上的涂層厚度。以下是使用鍍層測厚儀測量鍍層厚度的基本步驟:

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一、多種測量鍍層厚度的方式

1. 磁感應法測量鍍層厚度

利用測頭經過非鐵磁的覆層而流入鐵磁性金屬基體的磁通量的大小來確定鍍層的厚度。適合測量鋼鐵等鐵磁性金屬基體上的非磁性金屬鍍層,如涂料、清漆、搪瓷、塑料、橡膠覆層,鍍鉻、鍍鋅、鍍鎘、鍍銅層等有色金屬電鍍層以及各種防腐涂層。

2. 電渦流測厚法鍍層測厚儀

通過高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場,測頭靠近導體時,就在其中形成渦流。測頭離導電基體越近,則渦流愈大,反射阻抗能力越大。這個反饋作用表征了測頭與導電基體之間距離的大小,也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。

3. 其他鍍層厚度測量方式

除了上述的磁性和渦流測厚法,還有楔切法,光學法(如輪廓尺寸測量法,雙光束顯微鏡法),電解法(如陽極溶解庫倫法)、金相法、化學法(點滴法,溶解稱重法,計時液流法),機械法(如稱重法,厚度差測量法),X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法等多種鍍層厚度測量方式。其中電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。X射線和β射線法也屬于無接觸無損測量,測量范圍較小,X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。


二、YT8500鍍層測厚儀測量鍍層厚度

一、準備工作


在開始測量之前,需要先準備好鍍層測厚儀,確保電池充足,儀器狀態良好。同時,需要了解待測鍍層的材質、涂層類型以及基材的導電性能等基本信息。


二、校準儀器


為保證測量精度,需先對鍍層測厚儀進行校準。根據不同的測量原理,可能需要選擇不同的校準方法。例如,對于磁感應法測厚,需要使用標準片進行校準;而對于電渦流測厚,則可以使用已知涂層厚度的標準試樣進行校準。


三、設置參數


根據已知的涂層類型和基材的導電性能等信息,設置鍍層測厚儀的相關參數。這些參數包括涂層的導磁率、電導率等,以確保測量的準確性。


四、測量鍍層厚度


在開始測量時,將測頭接觸到涂層表面,保持測頭與涂層表面平行。慢慢移動測頭,使測頭與涂層表面完全接觸,此時儀器會顯示出涂層的厚度。為保證測量的準確性,建議在同一位置進行多次測量,并取平均值。


五、數據處理與報告


測量完成后,需要對數據進行處理和記錄。對于不同的涂層類型和基材,需要建立相應的數據庫,以便快速對比和處理數據。根據實際需求,可以生成相應的報告,例如涂層厚度分布圖、合格率等。


在實際應用中,除了磁感應法和電渦流法外,還有多種測量鍍層厚度的方法。例如,X射線熒光法可以用于測量金屬和非金屬基材上的涂層厚度;β射線反向散射法可以用于測量薄膜厚度;以及利用原子力顯微鏡(AFM)和掃描隧道顯微鏡(STM)等高精度儀器進行微觀尺度的涂層厚度測量。


使用鍍層測厚儀測量鍍層厚度是一個相對簡單的過程,但要獲得準確的測量結果,需要具備一定的操作技巧和經驗。在實際應用中,應根據具體情況選擇合適的測量方法和儀器,并嚴格按照操作步驟進行測量。同時,為保證測量結果的準確性,建議定期對儀器進行校準和維護。

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三、鍍層測厚儀介紹



產品型號YT8500
產品名稱專業版分體兩用涂層測厚儀
特性
YT系列涂層測厚儀是3nh公司制造的完全擁有自主知識產權的國產涂層測厚儀,能快速、精準的無損檢測各種涂覆在金屬基底上的涂層厚度。儀器完全符合ISO 2178、ISO 2360、GB/T 4956、GB/T 4957、ASTM B499等標準規定的磁性法和渦流法測試原理。
儀器測量精準、測試量程大、多種校正模式、多種測量模式、定位方便、功能強大,廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業等表面工程檢測領域,是涂層表面處理行業的基本裝備。
Fe基探頭可檢測噴涂在各種磁性基體(比如鋼鐵)上的各種非磁性涂層厚度,例如鐵板的油漆層、噴粉層、涂瓷層、鍍鉻層、鍍銅層、鍍鋅層等。
NFe基探頭檢測噴涂在非磁性金屬基底(比如鋁、銅、黃銅、不銹鋼等)上所有絕緣涂層厚度,例如油漆層、噴粉層、涂瓷層等。
符合標準ASTM B499,ASTM D1400,ASTM D709;
ISO 2178,ISO 2360,ISO 2808;
GB/T 4956,JB/T 8393
基體模式鐵基/非鐵基
探頭形式分體式
定位結構/
分辨率0.1μm
測量范圍0~5000μm
測量精度零點校正:±(3%H+1)μm;
兩點校正:±(1~3%H+1.5)μm;
注:H為樣品厚度
顯示屏IPS全彩屏, 1.14inch
接口Type C USB;藍牙5.0;按鍵
存儲數據3500條,通過手機APP可擴展海量存儲
電池電量鋰電池,充滿電單次可連續測試10000
測量模式基礎模式、品管模式、連續模式、統計模式
最小測量尺寸磁性:10×10mm;
非磁性:10×10mm
最小測量厚度磁性:0.2mm;
非磁性:0.05mm
最小曲率凸面半徑5mm;凹面半徑10mm
顯示單位μm/mil
尺寸102×50×20mm(探頭?18x69)
重量80g
工作溫度0~40oC(10~90%RH無凝露)
儲存溫度?-10~50oC
軟件支持微信小程序,鴻蒙,Windows,Andriod,IOS
標準附件基體2塊(鐵基體,鋁基體),腕帶,擦拭布,USB數據線,定位片,校準片
可選附件打印機,5V-2A電源適配器
注:校準片一套5片(厚度略有差異),技術參數僅為參考,以實際銷售產品為準